Программа расчета коэффициента отражения от сверхпроводящей пленки с учетом зависимости от температуры
программа расчета коэффициент отражения тонкая пленка сверхпроводимость температура
Программа позволяет рассчитать коэффициент отражения от тонкой пленки из высокотемпературного сверхпроводника на диэлектрической подложке с построением графика частотной зависимости коэффициента отражения с учетом температуры. Входными данными являются параметры сверхпроводящей пленки и диэлектрика, задаваемые в блоке "Задание параметров". Выходные данные: графики зависимости коэффициента отражения от частоты для разных температур.
Научные расчеты коэффициента отражения от тонких сверхпроводящих пленок
Мария
Головкина
Вилевна
Доцент
Кандидат физико-математических наук
Доцент
-
21833384300
299439
РОССИЯ
Вадим
Ружников
Александрович
Ректор
РОССИЯ
47.39.01
Общие вопросы криоэлектроники
02.02.IQ
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
Мария
Головкина
Вилевна
РОССИЯ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ПОВОЛЖСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ТЕЛЕКОММУНИКАЦИЙ И ИНФОРМАТИКИ"
1026301421992
ВАДИМ
РУЖНИКОВ
АЛЕКСАНДРОВИЧ
Организация
Министерство цифрового развития, связи и массовых коммуникаций Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ПОВОЛЖСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ТЕЛЕКОММУНИКАЦИЙ И ИНФОРМАТИКИ"
1026301421992
ВАДИМ
РУЖНИКОВ
АЛЕКСАНДРОВИЧ
Организация
Министерство цифрового развития, связи и массовых коммуникаций Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения