Способ определения оптических потерь в полупроводниковом лазере с резонатором произвольной формы
ЛАЗЕР РЕЗОНАТОР ОПТИЧЕСКИЕ ПОТЕРИ
Изобретение относится к измерительной технике, а именно, к исследованию полупроводниковых лазеров и лазерных микрорезонаторов, и может быть использовано для определения оптических потерь в полупроводниковых лазерах с резонатором произвольной формы и размеров, например, дисковой или кольцевой, для которых отсутствуют известные соотношения между оптическими потерями и их размерами.
Сущность предлагаемого способа определения оптических потерь в полупроводниковом лазере с резонатором произвольной формы и размеров включает формирование нескольких полосковых лазеров с резонатором Фабри-Перо различной длины со сколотыми гранями из той же эпитаксиальной лазерной гетероструктуры, из которой сформирован лазер с резонатором произвольной формы и размеров, измерение длины волны лазерной генерации в полупроводниковом лазере с резонатором произвольной формы и размеров, измерение длины волны лазерной генерации в полосковых лазерах различной длины, нахождение полоскового лазера, длина волны лазерной генерации которого совпадает с длиной волны лазерной генерации лазера с резонатором произвольной формы и размеров, определение оптических потерь найденного полоскового лазера. Величина оптических потерь лазера с резонатором произвольной формы и размеров характеризуется той же величиной, что и у найденного полоскового лазера. Резонатор произвольной формы и размеров имеет форму диска либо кольца. Лазер с резонатором произвольной формы и размеров и полосковый лазер работают при инжекционной накачке. Резонатор произвольной формы и размеров имеет диаметр в диапазоне 10-100 мкм. Лазерная гетероструктура содержит активную область в виде массива полупроводниковых квантовых точек. Условия лазерной генерации соответствуют перескоку длины волны лазерной генерации из спектральной полосы основного оптического перехода квантовых точек к спектральной полосе первого возбужденного оптического перехода квантовых точек.
Разработанный метод определения оптических потерь может быть использован для определения с приемлемой точностью величины оптических потерь в спектральном диапазоне лазерной генерации полупроводникового лазера с резонатором произвольной формы и размеров
29.19.31
Полупроводники
29.33.15
Оптические квантовые генераторы и усилители (лазеры)
Алексей
Жуков
Евгеньевич
"Доктор физико-математических наук"
"Доцент"
"A-5523-2014"
"35379962200"
"6940-3980"
"https://www.hse.ru/org/persons/332846767"
"0000-0002-4579-0718"
РОССИЯ
Иван
Махов
Сергеевич
"Кандидат физико-математических наук"
"Отсутствует"
"K-5053-2016"
"56400909500"
"7942-7377"
"https://www.hse.ru/org/persons/499043350"
"0000-0003-4527-1958"
РОССИЯ
Наталья
Крыжановская
Владимировна
"Доктор физико-математических наук"
"Отсутствует"
"A-5801-2014"
"6701651691"
"6733-4439"
"https://www.hse.ru/org/persons/332846774"
"0000-0002-4945-9803"
РОССИЯ
Правительство России
Правительство Российской Федерации
Организация
-
-
НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ "ВЫСШАЯ ШКОЛА ЭКОНОМИКИ", НИУ "ВЫСШАЯ ШКОЛА ЭКОНОМИКИ", ВЫСШАЯ ШКОЛА ЭКОНОМИКИ, НИУ ВШЭ, ВШЭ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ "ВЫСШАЯ ШКОЛА ЭКОНОМИКИ"
1027739630401
НИКИТА
АНИСИМОВ
ЮРЬЕВИЧ
Организация
Правительство Российской Федерации
Федеральные государственные автономные учреждения