СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПРОФИЛЯ ВДОЛЬ ЛИНИИ СКАНИРОВАНИЯ И ПРОФИЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ПО ИЗОБРАЖЕНИЮ, ПОЛУЧЕННОМУ С ЦИФРОВОГО УСТРОЙСТВА
цифровое оптическое устройство исследование микрорельефа распределение интенсивности отраженного света
Изобретение относится к способам неразрушающего исследования, контроля и диагностики состояния твёрдой поверхности, определения параметров рельефа и микрорельефа по фотоснимку, получаемому с помощью цифрового оптического устройства и анализируемого на персональном компьютере. Цифровое устройство для получения изображения поверхности оснащается матрицей светодиодов, расположенных вокруг объектива цифрового устройства на одинаковых расстояниях от центра объектива и друг от друга, обеспечивающих равномерное освящение поверхности монохроматическим светом с узкой шириной спектра излучения. Способ заключается в том, что исследуемая поверхность предварительно покрывается тонким, однотонным, матовым, однородным слоем из поверхностно-активного материала толщиной не более неоднородностей микрорельефа. для уменьшения влияния несущественных деталей рельефа, например небольшой шероховатости, съёмку изображения поверхности производят в условиях расфокусировки оптической системы цифрового устройства, при этом величина расфокусировки определяется конкретным типом поверхности и поставленной задачей. Результатом является профиль поверхности, полученный вдоль линии сканирования и профилограмма поверхности в виде её трехмерного изображения.
Предлагаемое изобретение имеет обширные области практического применения: 1) определение формы и структуры поверхности; 2) в качестве средства определения шероховатости; 3) исследование краевых областей; 4) исследование объектов поверхности которых образованы многослойными покрытиями; 5) углов смачивания; 6) неразрушающего контроля и технической диагностики поверхности; 7) обнаружение поверхностных дефектов; 8) оценки качества обработки поверхности и др.
Николай
Каширин
Владимирович
И.о. заведующего базовой кафедрой конструирования и производства керамических изделий микроэлектроники
Кандидат химических наук
Отсутствует
T-2863-2017
-
48319
РОССИЯ
Анатолий
Леухин
Николаевич
Проректор по научной работе
РОССИЯ
47.13.13
Технология и оборудование для производства радиодеталей и компонентов
47.13.19
Прочие технологические процессы и оборудование в производстве радиоэлектронной аппаратуры
02.02.AC
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS
Александра
Аверина
Ивановна
РОССИЯ
Николай
Каширин
Владимирович
РОССИЯ
ФГБОУ ВО "МАРИЙСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МАРИЙСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"
1021200783856
МИХАИЛ
ШВЕЦОВ
НИКОЛАЕВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения