Программа для выявления дефектов по инфракрасным изображениям полупроводниковых пластин
ИК-излучение Полупроводники Дефектоскопия
Программа предназначена для обнаружения дефектов и дислокационных сигнатур по изображениям полупроводниковых пластин, полученных с инфракрасной камеры в ближнем инфракрасном диапазоне
Программа может использоваться в установках по выявлению дефектов в полупроводниковых пластинах, в лабораторных оптических стендах.
50.53.19
Направления работ по автоматизации научных исследований
Александр
Винник
Евгеньевич
"Отсутствует"
"Отсутствует"
"AAE-3519-2022"
"https://persona.tsu.ru/Home/UserProfile/26960"
РОССИЯ
ФОНД СОДЕЙСТВИЯ ИННОВАЦИЯМ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФОНД СОДЕЙСТВИЯ РАЗВИТИЮ МАЛЫХ ФОРМ ПРЕДПРИЯТИЙ В НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ СФЕРЕ"
1027739479734
СЕРГЕЙ
ПОЛЯКОВ
ГЕННАДЬЕВИЧ
Организация
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Фонд содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере"
Федеральные государственные бюджетные учреждения
Винник Александр Евгеньевич
Винник Александр Евгеньевич
Александр
Винник
Евгеньевич
Физическое лицо
РОССИЯ