Программа для моделирования рентгенооптических свойств многослойных структур "Multifitting"
ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ПОКРЫТИЯ, РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ, СВОБОДНОВИСЯЩИЕ ПЛЕНКИ
Программа предназначена для анализа тонкоплёночных отражающих покрытий, нанесенных на поверхность рентгенооптических элементов, и свободновисящих плёнок по спектральным и угловым зависимостям коэффициента отражения. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК; ОС: Windows 7 и выше, Arch Linux.
Использовать в своих интересах, держа информацию в секрете
Чхало Н.И.
Зав. отделом
Доктор физико-математических наук
Красильник З.Ф.
Директор ИФМ РАН
29.19.25
Взаимодействие проникающего излучения с твердыми телами
29.19.16
Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
29.19.22
Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
01.03.UK
PHYSICS, CONDENSED MATTER
Н.
Чхало
И.
соавтор
М.
Свечников
В.
соавтор
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ИПФ РАН
Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук"
1025203020193
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения