CritPlot
анализ топологии зарядовой плотности программ
Программа предназначена для специалистов в области компьютерного моделирования материалов, использующих в своей работе для анализа топологии зарядовой плотности программы TOPOND или Critic2. Она позволяет анализировать выходные файлы с расширениями «outp» и «cro» указанных программ, содержащие сведения о расположении атомов и критических точек электронной плотности. В программе реализованы визуальное представление критических точек всех типов и их свойств; вывод в файл таблиц свойств критических точек. Программа имеет гибкие настройки отображения различных элементов моделей и дает возможность сохранять текущее состояние программы в файл для последующего открытия. Поддержка возможности учета периодических граничных условий при отображении критических точек на границах расчетной ячейки позволяет проводить анализ результатов расчета нуль- одно-, двух и трехмерных объектов. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Simply Linux 10, Ubuntu 22.04, Windows 10, MacOS 12.
Программа предназначена для специалистов в области компьютерного моделирования материалов, использующих в своей работе для анализа топологии зарядовой плотности программы TOPOND или Critic2.
27.19.15
Общая топология
Сергей
Созыкин
Анатольевич
"Кандидат физико-математических наук"
"Доцент"
"O-3255-2014"
"55626462000"
"616561"
"https://www.susu.ru/ru/employee/sozykin-sergey-anatolevich"
"0000-0001-7621-3502"
РОССИЯ
РНФ
Российский научный фонд
1137799022261
Организация
Организации, учрежденные юридическими лицами или гражданами, или юридическими лицами и гражданами совместно
Фонды
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ЮЖНО-УРАЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ (НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)"
1027403857568
АЛЕКСАНДР
ВАГНЕР
РУДОЛЬФОВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные автономные учреждения