Способ повышения точности количественного элементного анализа при спектральном наложении атомных линий в спектре плазмы
Градуировочная зависимость Количественный элементный анализ Спектроскопия лазерно-индуцированной плазмы Спектральное наложение
Спектрометрия лазерно-индуцированной плазмы - это современный метод анализа химического состава различных материалов. Мощный лазерный импульс испаряет материал образца и создает плазму, по эмиссионному спектру которой определяют концентрацию каждого элемента в образце. Однако, иногда при анализе возникает проблема спектрального наложения линии аналита с линиями матрицы. Для проведения количественного анализа при наложении спектральных линий был разработан новый способ, который позволяет определить интенсивность слабой линии аналита вблизи более интенсивной линии другого элемента. Предложенный способ основан на аппроксимации спектральной линии мешающего компонента и при увеличении амплитуды линии аналита будет увеличиваться невязка. Применение такого подхода позволяет повысить точность и экспрессность определения элементов в образцах с помощью спектрометрии лазерно-индуцированной плазмы.
1.	Определение состава различных образцов методом спектрометрии лазерно-индуцированной плазмы с применением бюджетных спектрометров;
2.	Мониторинг и экспрессное определение состава образцов методом спектрометрии лазерно-индуцированной плазмы в сложных условиях (агрессивные среды, температура, дальность измерения), которые не позволяют улучшить точность анализа; 
3.	Повышение точности определения элементов в образцах со сложным для спектрального анализа основным компонентом (переходные элементы, редкоземельные элементы), когда не удается избежать спектрального наложения линий аналита с другими компонентами мишени.
Сергей
Гудков
Владимирович
главный научный сотрудник
Доктор биологических наук
Доцент
B-6263-2013
6603181937
РОССИЯ
Сергей
Гарнов
Владимирович
Директор
РОССИЯ
29.31.26
Спектроскопические методы и методики
29.33.49
Лазерная спектроскопия
31.19.15
Анализ неорганических веществ
01.03.UB
PHYSICS, APPLIED
01.04.EA
CHEMISTRY, ANALYTICAL
02.02.AC
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS
02.07.SR
REMOTE SENSING
Василий
Леднёв
Николаевич
РОССИЯ
Павел
Сдвиженский
Александрович
РОССИЯ
Михаил
Гришин
Ярославович
РОССИЯ
Александра
Рогачевская
Вадимовна
РОССИЯ
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Петр
Мордовской
Григорьевич
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ИОФ РАН
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР "ИНСТИТУТ ОБЩЕЙ ФИЗИКИ ИМ. А.М. ПРОХОРОВА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК"
1027700378595
СЕРГЕЙ
ГАРНОВ
ВЛАДИМИРОВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения