Устройство для измерения термо-ЭДС тонких пленок
термо-ЭДС, тонкие пленки, термопары, источник света, средства измерения напряжения
Устройство для измерения термо-ЭДС предназначено для измерения термо-ЭДС тонких пленок. Устройство содержит две термопары, три средства измерения напряжения, подложку для крепления пленки, пленку и источник света.
В промышленности, для измерения термо-ЭДС в тонких пленках металлических, полупроводниковых и термоэлектрических материалов.
Каневский В.М.
руководитель ИК РАН
Доктор физико-математических наук
Соколов В.И.
заместитель директора
29.31.21
Оптика твердых тел
31.15.17
Кристаллохимия и кристаллография
29.19.22
Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
29.19.11
Дефекты кристаллической структуры
29.19.16
Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
01.04.FI
CRYSTALLOGRAPHY
01.03.SY
OPTICS
01.03.UK
PHYSICS, CONDENSED MATTER
02.05.QG
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS
Маргарита
Труфанова
Константиновна
20 %
Геннадий
Кожемякин
Николаевич
40 %
Юлий
Бендрышев
Николаевич
40 %
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФЕДЕРАЛЬНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР "КРИСТАЛЛОГРАФИЯ И ФОТОНИКА" РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК"
1037739548747
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения