Программа определения радиуса кривизны по топографии поверхности, форма которой подобна сферическому сегменту
прогиб, деформация, механические напряжения, поверхность, кривизна, радиус кривизны, формула Стоуни, профиль, топография, изгиб, полином
При анализе экспериментальных данных топографии поверхности производится определение  радиуса кривизны поверхности с целью количественной оценки изгиба пластины и последующего расчета прочностных характеристик. Для сопоставления результатов по различным пластинам необходимо унифицированное определение радиуса кривизны по профилю поверхности, поскольку в случае использования стандартных средств программного обеспечения оборудования, используемого при проведении измерений, – результат будет зависеть от выбранного оператором положения курсоров. Данная программа включает проведение аппроксимации полиномами второй степени и расчет радиуса кривизны путем дифференцирования полученных полиномов.
Анализ пластин
Беспалов В. А.
Ректор
Доктор технических наук
Гаврилов С. А.
Проректор
47.13.10
Технология и оборудование для производства изделий электронной техники СВЧ-диапазона
02.02.IQ
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
02.10.NS
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
02.11.IF
ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY
02.11.IJ
ENGINEERING, INDUSTRIAL
02.11.IK
ENGINEERING, MANUFACTURING
Анна
Дедкова
Александровна
разработка алгоритма, осуществление программной реализации
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
МИЭТ;  Национальный исследовательский университет "МИЭТ"; НИУ МИЭТ
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"
1027739615584
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения