Способ определения удельного электросопротивления полупроводников с помощью инфракрасной оптики
Полупроводники германий удельное сопротивление инфракрасная оптика
Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых кристаллических материалов, в частности, в монокристаллах германия. В основе изобретения поставлена задача контроля удельного электросопротивления по объему полупроводниковых материалов с помощью инфракрасного тепловизора. Применение данного способа позволяет определять УЭС по площади и в объеме образца, минимизировав количество контактов с поверхностью, что снижает вероятность нарушения поверхностного слоя образца, увеличивает разрешающую способность, повышает точность измерений
неразрушающий контроль удельного электросопротивления полупроводниковых кристаллических материалов
Сергей
Третьяков
Андреевич
доцент кафедры прикладной физики
Кандидат физико-математических наук
Отсутствует
C-3412-2013
55643319700
183749
http://physt.tversu.ru/?page_id=3234
0000-0002-4134-5609
РОССИЯ
Людмила
Скаковская
Николаевна
Ректор
РОССИЯ
29.03.35
Электрические и магнитные измерения в физическом эксперименте
29.03.21
Тепловые измерения в физическом эксперименте
01.03.UK
PHYSICS, CONDENSED MATTER
02.05.QF
MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
Иван
Каплунов
Александрович
15%
РОССИЯ
Сергей
Третьяков
Андреевич
35%
РОССИЯ
Сергей
Молчанов
Вячеславович
30%
РОССИЯ
Александра
Иванова
Ивановна
20%
РОССИЯ
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ТвГУ
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет"
1026900577109
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения