Устройство для измерения собственной добротности диэлектрического резонатора
собственная дробность, свч техника, селективные свойства, открытые диэлектрические резонаторы
Изобретение относится к СВЧ технике и предназначено для измерения селективных свойств высокодробных  миниатюрных открытых диэлектрических резонаторов. Техническим результатом изобретения является упрощение процесса измерения собственной дробности открытого диэлектрического резонатора.
в СВЧ технике
Геворкян В.М.
профессор
Кандидат технических наук
Драгунов В.К.
Проректор по научной работе
45.53.99
Прочие виды электротехнического оборудования
47.14.13
Проектирование и конструирование изделий электронной техники СВЧ-диапазона
47.14.03
Проектирование и конструирование радиодеталей и компонентов
02.02.IQ
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
02.02.YE
TELECOMMUNICATIONS
Владимир
Геворкян
Мушегович
34%
Александр
Шутов
Вадимович
33%
Юрий
Казанцев
Алексеевич
33%
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ФГБОУ ВО "НИУ "МЭИ"
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "МЭИ"
1027700251644
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения