Программа определения локальных радиусов кривизны в двух направлениях
деформация, механические напряжения, поверхность, кривизна, радиус кривизны, профиль, топография, изгиб, рельеф, полиномы
Программа специализирована для обработки экспериментальных данных топографии поверхности. Данная программа включает проведение аппроксимации полиномами высоких степеней и расчет радиуса кривизны путем дифференцирования полученных полиномов. Программа рассчитывает карты распределения кривизны и радиусов кривизны по всей площади поверхности. Эта информация может быть использована для анализа распределения локальных механических напряжений в исследуемых структурах.
Анализ пластин
Беспалов В. А.
Ректор
Доктор технических наук
Гаврилов С. А.
Проректор
47.13.10
Технология и оборудование для производства изделий электронной техники СВЧ-диапазона
02.02.IQ
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
02.10.NS
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
02.11.IF
ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY
02.11.IJ
ENGINEERING, INDUSTRIAL
02.11.IK
ENGINEERING, MANUFACTURING
Анна
Дедкова
Александровна
разработка алгоритма, осуществление программной реализации
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
МИЭТ;  Национальный исследовательский университет "МИЭТ"; НИУ МИЭТ
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"
1027739615584
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения