Аппаратно-программный комплекс, позволяющий измерять загрязненность подложек микроэлектроники
угол смачиваемости загрязненность подложек микроэлектроники оперативный контроль
Программа для контроля чистоты поверхности подложек, которая основана на измерении угла смачивания. Программа создана на основе методики, относящейся к контактным, неразрушающим методам исследования поверхности и позволяет быстро получать данные остепени загрязненности исследуемых материалов, используемых в микроэлектронике в количественном значении, относительно эталонного значения чистой подложки.
Оперативное определение количества загрязненности подложек микроэлектроники
85.31.31
Изобретения
Дарья
Румянцева
Евгеньевна
"Отсутствует"
"Отсутствует"
"нет"
"нет"
"нет"
""
"нет"
РОССИЯ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФОНД СОДЕЙСТВИЯ РАЗВИТИЮ МАЛЫХ ФОРМ ПРЕДПРИЯТИЙ В НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ СФЕРЕ"
1027739479734
СЕРГЕЙ
ПОЛЯКОВ
ГЕННАДЬЕВИЧ
Организация
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Фонд содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере"
Федеральные государственные бюджетные учреждения
Дарья
Румянцева
Евгеньевна
Физическое лицо
РОССИЯ