Патент 2761863 Способ неразрушающей диагностики дефектов сквозного металлизированного отверстия печатной платы
НЕРАЗРУШАЮЩАЯ ДИАГНОСТИКА КАЧЕСТВО ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ ИЗМЕРЕНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ КРОМКА МЕТАЛЛИЗАЦИИ
Согласно способу неразрушающей диагностики дефектов сквозного металлизированного отверстия печатной платы, верхнюю кромку металлизации в течение времени tнагр нагревают лучом лазерного излучения заданной мощности, По окончании нагрева бесконтактным способом с помощью ИК-камеры измеряют температуру верхней  и нижней кромок металлизации отверстия, а о дефектах металлизированного отверстия судят по разности этих температур и по отношению их приращений. При превышении порогового значения δTпор делается заключение о дефектности металлизации отверстия.
Изобретение позволяет осуществлять неразрушающий контроль качества сквозных металлизированных отверстий печатных плат при их производстве и применении на предприятиях радиоэлектронной аппаратуры
Ирен
Кузнецова
Евгеньевна
Главный научный сотрудник
Доктор физико-математических наук
Доцент
L-1859-2013
7102635597
24437
0000-0002-1564-7179
РОССИЯ
Сергей
Никитов
Аполлонович
Директор
РОССИЯ
47.33.31
Интегральные микросхемы
02.02.IQ
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
Вячеслав
Сергеев
Андреевич
РОССИЯ
Азат
Низаметдинов
Маратович
РОССИЯ
Максим
Сальников
Юрьевич
РОССИЯ
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Петр
Мордовской
Григорьевич
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ИРЭ им. В.А.Котельникова РАН
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А.Котельникова Российской академии наук
1027700183708
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения