Система для проверки работоспособности кристаллов ПЛИС под потоком быстрых нейтронов
ПЛИС FPGA отказоустойчивость нейтрон сбой микросхема
Рынок радиационно-стойкой электроники составляет более миллиарда долларов в год, не считая военных закупок. Он в основном ориентирован на аэрокосмическую технику и атомную отрасль. Весьма актуальной является задача удешевления радиационных испытаний микросхем, в которых использованы различные методы резервирования. В ноу-хау описана конструкция компактного стенда для испытания микросхем под действием нейтронного облучения.
Тестирование функционирования микроэлектронных схем и других электротехнических изделий под действием нейтронного облучения.
Петр
Александров
Анатольевич
Директор Института информационных технологий
Доктор физико-математических наук
Отсутствует
-
7005870904
21830
-
РОССИЯ
Кирилл
Борисов
Евгеньевич
Главный ученый секретарь Центра
РОССИЯ
47.33.31
Интегральные микросхемы
47.14.23
Оценивание и обеспечение надежности радиоэлектронной аппаратуры
59.45.39
Приборы для неразрушающего контроля изделий и материалов радиационным методом
01.02.EV
COMPUTER SCIENCE, INTERDISCIPLINARY APPLICATIONS
01.03.UI
PHYSICS, MULTIDISCIPLINARY
Петр
Александров
Анатольевич
РОССИЯ
Сергей
Фанченко
Сергеевич
РОССИЯ
Павел
Макавеев
Юрьевич
РОССИЯ
Евгений
Уксусов
Иванович
РОССИЯ
Анна
Беклемишева
Владимировна
РОССИЯ
Правительство России
Правительство Российской Федерации
Организация
-
-
НИЦ "Курчатовский институт"
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР "КУРЧАТОВСКИЙ ИНСТИТУТ"
1027739576006
МАРАТ
КАМБОЛОВ
АРКАДЬЕВИЧ
Организация
Правительство Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения