Устройство функционального тестирования микросхем flash-памяти на базе ПЛИС
NAND ФУНКЦИОНАЛЬНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ flash-память
Областью применения полезной модели является функциональное  тестирование интегральных микросхем NAND Flash памяти. Рассматриваемая система состоит из многофункциональной отладочной платы с программируемой логической интегральной схемой (ПЛИС), подключаемых модулей с сокетамиTSOP-48 для установки микросхем памяти, поддерживающих стандарт ONFi и АРМ  тестировщика (ПК), с которого задается программа тестирования,  осуществляется сбор и представление данных о результатах выполненных проверок.  Модульная конструкция позволяет выполнять параллельное независимое тестирование нескольких микросхем NAND Flash памяти при операциях записи и чтения данных.
Особенностью полезной модели является организация реконфигурируемой памяти для хранения промежуточных данных тестирования в самой микросхеме ПЛИС, что позволяет в зависимости от объемов тестируемой памяти оптимально реализовать требуемые объемы для хранения результатов тестирования.
Возможными направлениями использования являются производство SSD дисков, all-flash систем хранения данных, корпусирование NAND-flash памяти. Также возможно использование в микроэлектронной промышленности.
Карина
Пявина
Олеговна
Исполнитель
Отсутствует
Отсутствует
-
-
РОССИЯ
Карина
Пявина
Олеговна
Исполнитель
РОССИЯ
50.11.31
Полупроводниковые запоминающие устройства
02.02.AC
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS
Карина
Пявина
Олеговна
Разработка программного и аппаратного обеспечения системы тестирования flash-памяти. Составление полезной модели, реферата, написание заявки.
РОССИЯ
ФОНД СОДЕЙСТВИЯ ИННОВАЦИЯМ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФОНД СОДЕЙСТВИЯ РАЗВИТИЮ МАЛЫХ ФОРМ ПРЕДПРИЯТИЙ В НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ СФЕРЕ"
1027739479734
Организация
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Фонд содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере"
Федеральные государственные бюджетные учреждения
Карина
Пявина
Олеговна
Физическое лицо
РОССИЯ