Способ определения локальной деформации в кристалле алмаза с использованием оптически детектируемого магнитного резонанса NV дефектов
алмаз оптически детектируемый магнитный резонанс локальные напряжения/деформации NV дефект
Задачей настоящего изобретения является разработка способа определения внутренних локальных напряжений/деформаций вблизи NV-дефекта в алмазе по спектрам ОДМР, который бы был простым по выполнению и не требовал использования усложненного устройства для его осуществления, мог использоваться для измерений в условиях окружающей среды в отсутствие внешнего магнитного поля.
Изобретение относится к нанотехнологиям и может быть использовано в области разработки материалов на основе алмаза для магнитометрии, квантовой оптики, биомедицины, а также в информационных технологиях, основанных на квантовых свойствах спинов и одиночных фотонов.
Павел
Баранов
Георгиевич
гнс-зав.лаб
Доктор физико-математических наук
Профессор
D-6824-2014
57188834038
27512
0000-0003-1955-9245
РОССИЯ
Сергей
Иванов
Викторович
Директор Института
РОССИЯ
29.19.04
Структура твердых тел
29.19.11
Дефекты кристаллической структуры
29.19.22
Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
29.19.45
Электронные парамагнетики
01.03.UB
PHYSICS, APPLIED
01.03.UK
PHYSICS, CONDENSED MATTER
Александр
Гурин
Сергеевич
РОССИЯ
Анна
Бундакова
Павловна
РОССИЯ
Марина
Музафарова
Викторовна
РОССИЯ
Павел
Баранов
Георгиевич
РОССИЯ
Роман
Бабунц
Андреевич
РОССИЯ
Андрей
Анисимов
Николаевич
РОССИЯ
РНФ
Российский научный фонд
1137799022261
Организация
Организации, учрежденные юридическими лицами или гражданами, или юридическими лицами и гражданами совместно
Фонды
ФТИ им. А.Ф. Иоффе
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
1037804006998
СЕРГЕЙ
ИВАНОВ
ВИКТОРОВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения