Программа обнаружения наночастиц на изображениях с электронного микроскопа на основе метода экспоненциальной аппроксимации
анализ изображений СЭМ-изображения обнаружение мелких ярких объектов обнаружение наночастиц
Программа предназначена для определения положениях и радиуса наночастиц на изображениях с электронного микроскопа с помощью метода экспоненциальной аппроксимации. Программа позволяет снизить временные затраты для анализа изображений с электронного микроскопа и существенно повысить эффективность исследований.
Детектированные наночастицы на изображении с электронного микроскопа являются основой для анализа факта или степени упорядоченности расположения наночастиц. Кроме того, результаты детектирования могут быть использованы как соответствующие обучающие прецеденты для построения систем предсказания каталитической активности на основе степени упорядоченности расположения наночастиц для систем компьютерного зрения.
Евгений
Семенищев
Александрович
заведующий лабораторией
Кандидат технических наук
Доцент
A-2062-2014
56572834900
532160
РОССИЯ
Михаил
Воротилин
Сергеевич
Проректор по научной работе
РОССИЯ
28.23.15
Распознавание образов. Обработка изображений
01.02.EP
COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE
Олег
Середин
Сергеевич
РОССИЯ
Михаил
Курбаков
Юрьевич
РОССИЯ
Валентина
Сулимова
Вячеславовна
РОССИЯ
Андрей
Копылов
Валериевич
РОССИЯ
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Петр
Мордовской
Григорьевич
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ТУЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"
1027100753360
ОЛЕГ
КРАВЧЕНКО
АЛЕКСАНДРОВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения