Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок
тонкие пленки рельеф поверхности атомно-силовая микроскопия фрактальный анализ
Программа предназначена для определения характеристик поверхности тонких пленок методами фрактального анализа. Входные данные: двумерный массив высот поверхности (рельеф) тонкой пленки, измеренный методом атомно-силовой микроскопии. Для анализа массива данных используются: автокорреляционная функция, функция корреляции высота-высота и двумерный мультифрактальный анализ флуктуаций поверхности. Результаты расчета представляют собой: величину арифметической шероховатости, длину корреляции, фрактальную размерность и, параметры мультифрактального спектра. Программа может быть использована для определения количественных характеристик рельефа поверхности различных тонких пленок. Исследование выполнено при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках Программы развития УрФУ в соответствии с программой стратегического академического лидерства «Приоритет-2030».
Программа может быть использована для определения количественных характеристик рельефа поверхности различных тонких пленок.
Владимир
Шур
Яковлевич
главный научный сотрудник
Доктор физико-математических наук
Профессор
J-9078-2015
55665336800
20338
РОССИЯ
Александр
Германенко
Викторович
проректор по науке
РОССИЯ
29.19.35
Сегнетоэлектрики и антисегнетоэлектрики
01.03.UK
PHYSICS, CONDENSED MATTER
Антон
Турыгин
Павлович
РОССИЯ
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
1187746579690
Петр
Мордовской
Григорьевич
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "УРАЛЬСКИЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ ПЕРВОГО ПРЕЗИДЕНТА РОССИИ Б.Н. ЕЛЬЦИНА"
1026604939855
ВИКТОР
КОКШАРОВ
АНАТОЛЬЕВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные автономные учреждения