MultiScanAFM
позиционер автоматизация измерений оптическая микроскопия атомно-силовая микроскопия
Программа предназначена для автоматизации потоковых измерений поверхностей образцов методами атомно-силовой и оптической микроскопии с использованием автоматизированного позиционера.
Область применения: сканирующая зондовая микроскопия, контроль качества поверхностей.
50.01.81
Измерения, испытания, контроль и управление качеством
Андрей
Быков
Викторович
"Отсутствует"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Владимир
Котов
Валерьевич
"Отсутствует"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Марина
Новожилова
Сергеевна
"Отсутствует"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Вячеслав
Поляков
Викторович
"Кандидат технических наук"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Станислав
Леесмент
"Кандидат технических наук"
"Отсутствует"
РОССИЯ
ООО "НТ-МДТ"
Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ"
1137746410790
Организация
Организации, учрежденные юридическими лицами или гражданами, или юридическими лицами и гражданами совместно
Общества с ограниченной ответственностью
МОСКОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ, МОСКОВСКИЙ ПОЛИТЕХ, ПОЛИТЕХ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МОСКОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
1167746817810
ВЛАДИМИР
МИКЛУШЕВСКИЙ
ВЛАДИМИРОВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные автономные учреждения
ООО "НТ-МДТ"
Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ"
1137746410790
Организация
Организации, учрежденные юридическими лицами или гражданами, или юридическими лицами и гражданами совместно
Общества с ограниченной ответственностью