Патент 2696360. Способ неразрушающего контроля качества сверхбольших интегральных схем по значению критического напряжения питания
сверхбольшие интегральные схемы,  критическое напряжение питания, диагностика
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для обеспечения качества и надежности сверхбольших интегральных схем. Измеряют критическое напряжение питания при нормальной и повышенной температуре. СБИС предварительно программируют тестирующей программой для раздельного диагностирования блоков СБИС. Измеряют критическое напряжение питания выбранного блока. На зависимости КНП от температуры  выделяют информативную область, по площади которой оценивают надежность С БИС.
Изобретение может быть использовано для разбраковки цифровых ИМС по критерию потенциальной ненадежности как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры.
Сергеев В.А.
Директор
СЕРГЕЕВ В. А.
Директор, д.т.н., профессор
59.45.33
Приборы для неразрушающего контроля изделий и материалов электрическим методом
59.45.31
Приборы для неразрушающего контроля изделий и материалов тепловым методом
47.33.33
Оптоэлектронные приборы
02.02.IQ
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
Александр
Скоморохов
Александрович
соавтор
Вячеслав
Сергеев
Андреевич
соавтор
Александр
Винокуров
Александрович
соавтор
Митрофан
Горлов
Иванович
соавтор
Евгений
Алыбин
Викторович
соавтор
ФАНО России
Федеральное агентство научных организаций
5137746009462
Организация
Правительство Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения
УФИРЭ им. В.А.Котельникова РАН
Ульяновский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института радиотехники и электроники им. В.А.Котельникова Российской академии наук
1027700183708
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Филиалы юридических лиц