Определение параметров глубоких уровней полупроводниковых структур
исследование полупроводниковых образцов автоматизированный измерительный комплекс Электрические характеристики
Программа предназначена измерения и обработки зависимости емкости полупроводниковой структуры от температуры исследуемого объекта. Тип ЭВМ: PC. OC:MS DOS 6.22.
Функциональные возможности программы: Программа циклически опрашивает вольтметр, измеритель емкости и источник напряжения. Программа предусматривает поддержание линейного нагрева объекта (необходимое условие диагностики), измерение температуры и емкости объекта, завись полученных результатов в файл. Также предусмотрена постэкспериментальная обработка результатов измерения на основе метода термостимулированной емкости полупроводниковых структур, которая позволяет определять энергию глубокого центра в запрещенной зоне.
Программа может использоваться в области контроля качества производства полупроводниковых компонент и научных исследованиях.
Валерия
Рибенек
Александровна
генеральный директор
Отсутствует
Младший научный сотрудник
-
57219199324
РОССИЯ
Валерия
Рибенек
Александровна
генеральный директор
РОССИЯ
50.41.25
Прикладное программное обеспечение
02.02.AC
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS
Валерия
Рибенек
Александровна
РОССИЯ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФОНД СОДЕЙСТВИЯ РАЗВИТИЮ МАЛЫХ ФОРМ ПРЕДПРИЯТИЙ В НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ СФЕРЕ"
1027739479734
СЕРГЕЙ
ПОЛЯКОВ
ГЕННАДЬЕВИЧ
Организация
Федеральное государственное бюджетное учреждение "Фонд содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере"
Федеральные государственные бюджетные учреждения
Валерия
Рибенек
Александровна
Физическое лицо
РОССИЯ