MultiScanAFM
атомно-силовая микроскопия оптическая микроскопия автоматизация измерений позиционер
Программа предназначена для автоматизации потоковых измерений поверхностей образцов методами атомно-силовой и оптической микроскопии с использованием автоматизированного позиционера.
Область применения: сканирующая зондовая микроскопия, контроль качества поверхностей.
50.01.81
Измерения, испытания, контроль и управление качеством
Андрей
Быков
Викторович
"Отсутствует"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Станислав
Леесмент
"Кандидат технических наук"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Марина
Новожилова
Сергеевна
"Отсутствует"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Владимир
Котов
Валерьевич
"Отсутствует"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Вячеслав
Поляков
Викторович
"Кандидат технических наук"
"Отсутствует"
РОССИЯ
Минобрнауки России
Министерство образования и науки Российской Федерации
1047796287440
Организация
Министерство образования и науки Российской Федерации
Федеральные государственные казенные учреждения
МОСКОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ, МОСКОВСКИЙ ПОЛИТЕХ, ПОЛИТЕХ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МОСКОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
1167746817810
ВЛАДИМИР
МИКЛУШЕВСКИЙ
ВЛАДИМИРОВИЧ
Организация
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Федеральные государственные автономные учреждения
ООО "НТ-МДТ"
Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ"
1137746410790
Организация
Организации, учрежденные юридическими лицами или гражданами, или юридическими лицами и гражданами совместно
Общества с ограниченной ответственностью