Способ косвенного измерения отказоустойчивости облучаемых испытательных цифровых микросхем, построенных различными способами постоянного поэлементного резервирования, и функциональная структура испытательной микросхемы, предназначенной для реализации этого способа
РЕЗЕРВИРОВАНИЕ, ОТКАЗОУСТОЙЧИВОСТЬ, ОБЛУЧЕНИЕ, ЦИФРОВАЯ МИКРОСХЕМА
Изобретение относится к способам косвенного измерения отказоустойчивости облучаемых цифровых испытательных микросхем, построенных различными способами постоянного поэлементного резервирования и к испытательным микросхемам для реализации этих способов измерения. Технический результат: создание средств проведения испытаний способов построения цифровых микросхем, построенных на основе постоянного поэлементного резервирования с целью получения экспериментальных оценок их отказоустойчивости к облучению. Используются теоретические способы вычисления отказоустойчивости микросхем на основе оценки вероятности отказа облучаемых микросхем «по площадям». Используется среднее время работы микросхемы до ее отказа от момента облучения, принятого за начальный, до момента фиксации числа последовательных отказов облучаемой микросхемы в заданном числе соседних циклов работы испытательных микросхем.
выбор подходящего способа постоянного поэлементного резервирования микросхем при создании цифровых микросхем, отказоустойчивых к облучению
Фанченко С.С.
Начальник лаборатории
Доктор наук
Николаенко А.В.
Заместитель директора - главный ученый секретарь Центра
47.33.31
Интегральные микросхемы
47.14.07
Проектирование и конструирование полупроводниковых приборов и приборов микроэлектроники
01.03.UB
PHYSICS, APPLIED
02.02.ES
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
Петр
Александров
Анатольевич
50%
Виктор
Жук
Ильич
50%
Правительство России
Правительство Российской Федерации
Организация
-
-
НИЦ "Курчатовский институт"
федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
1027739576006
Организация
Правительство Российской Федерации
Федеральные государственные бюджетные учреждения